교육과학기술부는 김장렬 한국원자력연구원 원자력방호안전부 책임연구원이 휴대전화나 노트북 부품 검사로 방사선 피폭 여부를 측정하는 기술을 개발했다고 15일 밝혔다.
연구팀은 전자기기 부품에 사용하는 저항소자·발진소자·집적회로(IC)칩의 세라믹 물질이 방사선에 노출되면 광자극발광(OSL) 특성을 띠는 것에 착안해 전자기기 부품 검사로 피폭 여부와 누적선량을 측정하는 데 성공했다.
이를 통해 피폭 여부와 누적선량을 파악할 수 있다.
이 기술은 기존의 ‘혈액 내 염색체 변이 해석법’보다 빠르고 정확하게 10mSv의 낮은 방사선량까지 측정할 수 있어 선량계를 착용하지 않은 원전 주변 주민의 피폭 방사선량 평가에 유용하게 쓰일 것으로 기대된다.
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