표준연, 물질의 구조 측정 정확도 높인다

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입력 2011-11-14 09:09
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(아주경제 권석림 기자) 한국표준과학연구원은 재료측정표준센터 김용일 박사팀이 물질의 구조를 파악하는 데 쓰이는 ‘X-선 회절기’의 정확도를 높일 수 있는 인증표준물질을 개발했다고 14일 밝혔다.

X선 회절기는 사람의 지문처럼 물질이 갖고 있는 고유한 원자배열을 분석해 물질의 종류를 파악하는 장비다.

표준연에 따르면 X선 회절기는 주기적으로 교정해 측정 정확도를 유지하는 것이 관건인데, 지금까지 교정을 위해 사용하는 표준물질이 없어 측정 결과에 신뢰성을 보장할 수 없었다.

연구팀은 실리콘을 고정밀 분쇄기를 이용해 잘개 쪼갠 뒤 다시 매스실린더를 활용, 자연 낙하하는 방법으로 2~10 마이크로미터(㎛, 100만분의 1m) 크기의 인증표준물질 분말을 제작했다.

이번에 개발한 인증표준물질을 이용해 X-선 회절기를 교정하면 물질의 원자배열 값을 1만분의 1수준까지 정밀하게 측정할 수 있다고 표준연은 설명했다.

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