단 한번의 검사로 다중병원균 진단한다

사람의 생명을 위협하는 여러 감염 병균을 단 한번의 검사로 진단할 수 있는 원천기술이 국내 연구진에 의해 개발됐다.

교육과학기술부는 김봉수 KAIST 교수팀이 금 나노선을 이용해 감염 질환에 자주 나타나는 여러 가지 원인균을 신속하고 정확히 진단할 수 있는 다중병원균 진단센서를 개발하는 데 성공했다고 21일 밝혔다.

이번에 개발한 다중병원균 진단센서는 다양한 감염 병균을 하나의 칩만으로 동시 진단할 수 있는 획기적 기술이다.

이 센서는 병균의 특정 DNA에만 결합할 수 있는 탐침 DNA 조각을 금 나노선에 붙여 임상시료에서 뽑아낸 DNA가 금 나노선에 부착된 탐침 DNA와 결합하는지를 확인해 감염 병균의 종류를 쉽게 검출할 수 있도록 설계됐다.

기존 검사 방법은 균주를 일일이 배양해서 확인했기 때문에 최소 3일 이상 소요되고 성공률도 50% 이하였다.

하지만 새로 개발된 센서는 환자로부터 얻은 임상 샘플에서 어떤 병균이 존재하는지를 단 한 번의 검사로 신속, 정확하게 진단할 수 있어 최적의 항생제를 감염 초기에 투여할 수 있다.

또 수 마이크론 길이의 금 나노선 하나가 한 종류의 병균을 검출하는 센서로 작용할 수 있기 때문에 1밀리미터 크기의 칩에 수천 개의 나노선을 배열해 많은 종류의 감염 병균을 동시에 검출할 수 있는 초고집적 메디컬센서로 응용될 수도 있다.

한편 이번 연구결과는 나노 분야의 세계적 권위지인 나노레터스 온라인 속보판 11일자에 소개됐으며 현재 특허 출원을 진행 중이다.

아주경제 김명근 기자 [e-mail]
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